- XAFS 実験ステーションの現状
- BL08B2 小角Ｘ線散乱測定の現状と XAFS/SAXS 同時測定の整備について
- BL08B2 Ｘ線イメージングステーションの整備
- 小角Ｘ線散乱 (SAXS) によるアクリル系エマルション粒子および皮膜の構造解析
- トポグラフィーによる 4H-SiC エピタキシャル膜中の刃状転位の評価
- 有機半導体材料のＸ線散乱構造解析
- Ｘ線 CT によるポリマーフォームのセル構造観察
- ナノフィラーコンポジット材の構造と物理特性との相関解明
- 放射光を利用したゴム材料中の階層構造追跡
- XAFS によるエネルギーデバイス材料の局所構造解析
- 硬Ｘ線ナノ集光用円形多層膜ゾーンプレートの製作と性能評価
- 高平行度Ｘ線マイクロビームの形成とその応用研究
- BL24XU におけるマイクロビーム，マイクロイメージングの高度化
- 微小角入射Ｘ線回折法によるポリ-α-オレフィン/接着剤界面の微細構造
- 広角散乱光学系の構築と粘着剤の剥離過程における構造変化のその場観察
- マイクロ XAFS 光学系と実験装置のスタディ
- Ｘ線 3D トポグラフィーによる 4H-SiC 基底面転位および貫通刃状転位のイメージング
- 原子燃料被覆管材の酸化皮膜・金属界面部のサブマイクロビームによる微細構造解析
- Real-time Synchrotoron Radiation X-Ray Diffraction from Erbium Silicate Formations on SiO2/Si Substrates
- 放射光Ｘ線散乱法を用いた毛髪の線維配向解析
- リチウムイオン二次電池の負極における Mn 分布のマイクロビーム XRF 法による評価
- 合成ゴムの構造と特性との相関性 . Ｘ線散乱解析による一軸伸長結晶化挙動の観察
- リチウムイオン電池正極材の放電過程における局所的構造変化
|
ダウンロード
|
